Cómo la inspección visual impulsada por IA de Unitecho redefine la excelencia en la fabricación de TLCC
Revolucionando el control de calidad: cómo la inspección visual impulsada por IA de Unitecho redefine la excelencia en la fabricación de TLCC
En el exigente mundo de la fabricación electrónica, un arañazo microscópico o un defecto de soldadura invisible pueden derivar en fallos catastróficos en campo. Para los portadores de chip sin conductores de transformador (TLCC), los potentes y compactos componentes que impulsan todo, desde los sistemas de carga de vehículos eléctricos hasta la infraestructura 5G, los métodos de inspección tradicionales ya no son suficientes. Presentamos el sistema de inspección visual basado en IA de Unitecho, que combina precisión y velocidad en un avance revolucionario para el control de calidad.
La crisis invisible de los componentes miniaturizados
A medida que los TLCC se reducen por debajo de los 3 mm al manejar cargas de nivel de kilovatios, la inspección humana convencional tiene dificultades con:
Defectos de menos de 0,1 mm que escapan a la detección
Errores de los inspectores inducidos por fatiga durante turnos de 8 horas
Retraso de 72 horas entre los informes de producción y calidad
Estas deficiencias les cuestan a los fabricantes hasta un 12 % en tasas de desecho y reclamaciones de garantía. ¿Nuestra solución? Un ecosistema de IA que detecta lo que los humanos no pueden.
Dentro del Centro de Inspección Cognitiva de Unitecho
(Referencia: Análisis de imágenes)
La interfaz revela una sinfonía de maestría tecnológica:
Escaneo concurrente multizona
Seis sectores de inspección dedicados (etiquetados del 1 al 6) realizan la búsqueda de defectos en paralelo; cada uno procesa más de 5000 puntos de datos por segundo en:Integridad del filete de soldadura
Deformación del sustrato (tolerancia de ±2 μm)
Uniformidad de la capa de metalización
(Información de la imagen: Todas las zonas muestran el estado "OK" con puntuación de confianza en tiempo real)Aprendizaje profundo a la velocidad de la luz
Los algoritmos patentados entrenados en más de 750 000 imágenes de defectos (como se hace referencia en el conjunto de datos “75 000” de la imagen) identifican 47 modos de falla, desde el desprendimiento hasta la disolución del cobre, en 18 segundos por unidad (línea de tiempo 00:01 → 00:18).Optimización de procesos basada en datos
El panel de análisis del panel derecho correlaciona los defectos con:Perfiles de temperatura del horno de reflujo
Variaciones del grosor de la plantilla
Métricas de viscosidad de la pasta
(Información de la imagen: Parámetros como "1139" indican indicadores de anomalías térmicas)
¿Por qué los proveedores globales de primer nivel eligen Unitecho?
Garantía de escape cero
Nuestras imágenes subsuperficiales en 3D detectaron 4077 defectos latentes (como se muestra en el contador “4077”) durante una prueba beta en una planta de electrónica de potencia de Fortune 500; defectos que los rayos X no detectaron.Inteligencia autoevolutiva
Cada unidad inspeccionada (4.077 de capacidad diaria por línea) alimenta nuestra red neuronal, reduciendo los falsos rechazos en un 22% trimestral.Integración Plug-and-Play
La conectividad MES perfecta proporciona informes OEE antes de que los gerentes de turno se sirvan el café de la mañana.
Caso práctico: Triunfo en un plazo de entrega de 48 horas
Cuando un fabricante de drones se enfrentó a un 15 % de devoluciones de campo debido a TLCC agrietados, Unitecho implementó nuestro sistema con:
72 horas: IA entrenada en el historial de fallas
48 horas: Causa raíz identificada (choque térmico durante el recubrimiento conformado)
0%: Tasa de escape lograda después de la implementación
El nuevo estándar de oro en control de calidad de productos electrónicos
Unitecho no solo vende sistemas de inspección: ofrecemos seguridad. En una industria donde "OK" (como se muestra en todas las zonas de la imagen) debe significar perfección, nuestra IA se convierte en su mejor póliza de seguro contra costosas retiradas de productos.
Únase a cientos de líderes de la industria que confían su reputación a nuestra visión. Porque en la batalla a escala nanométrica por la confiabilidad, ver no es creer, es demostrar.
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